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簡要描述：IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設(shè)備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進(jìn)行實(shí)驗(yàn),通過控制實(shí)驗(yàn)條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方式:鍵合線失效和焊料層老化。實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵是控制結(jié)溫的波動范圍以及最高溫度,得到不同條件下的實(shí)驗(yàn)壽命,從而得到IGBT的壽命。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-01-29訪 問 量：1925產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車,電氣 |
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GBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng) 主要技術(shù)規(guī)格和性能: | ||
| 產(chǎn)品型號 | GKH-IGBT-3000A，GKH-PC-1500A | |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | 試驗(yàn)線路及試驗(yàn)方法滿足MIL-STD-750、GJB128、IEC60747-9及AEC-Q101相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。 | |
| 試驗(yàn)電流 | 最大加熱電流IH為3000A | |
| 系統(tǒng)組成 | 一臺K系數(shù)測試機(jī)，GBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)一臺試驗(yàn)機(jī)及一臺制冷機(jī)組成。一套系統(tǒng)中即可測量器件的K系數(shù)，又可測量器件的熱阻值。并可對多只產(chǎn)品串聯(lián)做功率循環(huán)試驗(yàn)。 | |
| ①整機(jī)可以測試5個元件，5個元件串聯(lián)一起組成一組。試驗(yàn)過程中的開通關(guān)斷以及恒流是通過大功率電子負(fù)載實(shí)現(xiàn)。相比直接的電子開關(guān)控制開通關(guān)斷，電子負(fù)載可以實(shí)現(xiàn)更精確的恒流。更快速的開通及關(guān)斷。 | ||
| ②被測試元件分別固定在水冷板上。 | ||
| ③每個元件的Vge電源采用隔離電源，輸出電壓程控產(chǎn)生。定期測試Ige電流。 | ||
| ④通過實(shí)時監(jiān)測IH加熱電流，和VCE變化來判斷射極引線是否脫落。如果IH電流突然變?yōu)?，則可認(rèn)為是射極引線脫落或材料開路，如果VCE變化越來越大，則可以認(rèn)為部分射極引線脫落，或者是焊接不良或其它芯片原因，則設(shè)備停機(jī)報(bào)警 | ||
| ⑤定期檢測每只IGBT柵極引線是否脫落，判斷方法如下：使用IM小電流測試VCE， 如果VCE處于飽和壓降范圍內(nèi)，則認(rèn)為柵極引線脫落。 | ||
| 監(jiān)控參數(shù) | 試驗(yàn)電流IH、柵極電流Ige、柵極電壓Vge、集射極飽和壓降Vces、結(jié)到殼熱阻值Rth、高低結(jié)溫差值(Delta Tj)、殼溫及液冷平臺進(jìn)出水口溫度、器件的壓力F（壓接型器件）、通斷時間、試驗(yàn)周期數(shù)等。 | |
| 數(shù)據(jù)記錄 | 試驗(yàn)全程記錄每個試驗(yàn)通道的ICE、VCE@IH、VCE@IM、IGE、VGE、RthJc、F、ON\OFFTime、循環(huán)數(shù)，Delta Tj、Tjmax、Tjmin等參數(shù)。液冷平臺的進(jìn)出水口溫度，制次機(jī)的水溫，器件的殼溫等。。可記錄數(shù)≥1000000次。 | |
| 計(jì)算機(jī) | 工業(yè)級電腦主機(jī)、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標(biāo)。WINDOWS操作界面，友好的人機(jī)對話窗口， 強(qiáng)大的圖形編輯能力以及強(qiáng)大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學(xué)。更有系統(tǒng)查詢診斷功能， 試驗(yàn)狀況一目了然，方便用戶隨時查驗(yàn)。 | |
| 電網(wǎng)要求 | 三相AC380V±10%，47Hz~63Hz，90KW | |
| 外形尺寸 | W2480mmхH1820mmхD1320mm | |
| 重量 | 約1200kg | |
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