簡要描述:CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動 ;可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子,汽車,電氣 |
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CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺特點 / 應(yīng)用
滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.
大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試
同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu),線性移動
兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動
可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺 臺體規(guī)格:
光學(xué)系統(tǒng):
探針座
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