簡(jiǎn)要描述:布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡布魯克的Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡為表面計(jì)量性能的設(shè)計(jì)和成本效率設(shè)定了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Contour Elite K具有出色的粗糙度和2D / 3D測(cè)量功能,高保真成像,以及業(yè)界的用戶友好界面,可在緊湊的系統(tǒng)中提供毫不妥協(xié)的計(jì)量和高保真成像。
詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,能源,電子,交通 |
布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡
臺(tái)式表面的的成像和計(jì)量功能
布魯克的Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡為表面計(jì)量性能的設(shè)計(jì)和成本效率設(shè)定了新的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。Contour Elite K具有出色的粗糙度和2D / 3D測(cè)量功能,高保真成像,以及業(yè)界進(jìn)的用戶友好界面,可在緊湊的系統(tǒng)中提供毫不妥協(xié)的計(jì)量和高保真成像。
Contour Elite K提供了白光干涉測(cè)量法的所有優(yōu)點(diǎn),而沒(méi)有傳統(tǒng)的共聚焦和標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字顯微鏡的不足。
布魯克Contour Elite K 3D光學(xué)顯微鏡
的價(jià)值和可擴(kuò)展的選擇
Contour Elite K針對(duì)實(shí)驗(yàn)室和工廠車(chē)間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合,可以以比同類(lèi)計(jì)量能力低數(shù)千美元的價(jià)格,簡(jiǎn)化對(duì)光學(xué)性能的訪問(wèn)。Contour Elite K可以通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)升級(jí)的附件輕松擴(kuò)展到標(biāo)準(zhǔn)平臺(tái)之外,包括:
毫不妥協(xié)的計(jì)量設(shè)計(jì)
簡(jiǎn)化的系統(tǒng)可提供定量計(jì)量所需的低噪聲,高速,準(zhǔn)確和精密的結(jié)果。通過(guò)使用多個(gè)目標(biāo)和集成的特征識(shí)別功能,可以在各種視角下以亞納米級(jí)的垂直分辨率跟蹤特征,從而為非常不同的行業(yè)中的質(zhì)量控制和過(guò)程監(jiān)控應(yīng)用程序提供與比例無(wú)關(guān)的結(jié)果。
精確的測(cè)量和高保真成像
Contour Elite K在工業(yè)3D光學(xué)顯微鏡中可提供的橫向分辨率,即使在小的結(jié)構(gòu)上也能增強(qiáng)量化邊緣變化的能力。Contour Elite的高保真成像可顯示特定表面細(xì)節(jié),否則將很難看到或無(wú)法看到這些細(xì)節(jié),并使用戶能夠根據(jù)顏色或灰度信息對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行細(xì)分,以快速選擇感興趣的區(qū)域并從這些特定區(qū)域收集關(guān)鍵的計(jì)量數(shù)據(jù)。
強(qiáng)大的分析功能,易于使用
Contour Elite K具有簡(jiǎn)化的用戶界面,可大化用戶效率并簡(jiǎn)化測(cè)量和分析。Vision 64將智能架構(gòu)與直觀的可視化工作流程以及廣泛的用戶定義的自動(dòng)化功能相結(jié)合,可實(shí)現(xiàn)快速,全面的數(shù)據(jù)收集和分析。新的Vision64 Map通過(guò)開(kāi)放簡(jiǎn)化的對(duì)11種語(yǔ)言的自動(dòng)報(bào)告的訪問(wèn)權(quán)限,進(jìn)一步擴(kuò)展了這些功能。
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