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簡要描述：布魯克INVENIO紅外光譜儀 INVENIO - 常規(guī)FTIR以及多光譜研究/開發(fā)的日常應(yīng)用FTIR之選，INVENIO 致力于幫助您實現(xiàn)從日常質(zhì)量控制到高級研究/開發(fā)的創(chuàng)新。不論您是看重生產(chǎn)力、精確度還是需要符合大量規(guī)定，INVENIO都能為您提供*的支持。
產(chǎn)品型號：INVENIO廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2024-01-26訪 問 量：1615詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子,電氣 |
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布魯克INVENIO紅外光譜儀
創(chuàng)新優(yōu)勢
全新的光路設(shè)計，實現(xiàn)高信噪比
集成觸屏式電腦，可快速高效地進行紅外光譜分析（選配）
提供第二個樣品室，可并行使用兩種紅外設(shè)置（TransitTM）
全新SoC電子元件能夠帶來光譜精度，實現(xiàn)低能耗
布魯克FM，實現(xiàn)中紅外和遠紅外一次測試
MultiTectTM技術(shù)可增添5個檢測器，實現(xiàn)總計7個內(nèi)部檢測器
可從遠紅外擴展至紫外/可見光譜區(qū)以及時間分辨光譜(TRS)
適應(yīng)需求變化
您的應(yīng)用需求才是一切的標準所在，INVENIO將為您的辛勤勞作提供支持。當(dāng)您的分析需求有所提高時，INVENIO緊隨其后，它將是您完成日常分析任務(wù)所*的堅實基礎(chǔ)。
布魯克INVENIO紅外光譜儀的靈敏度
憑借新穎、高效的光路設(shè)計，以及由*的SoC電子元件控制的精確的光學(xué)系統(tǒng)，INVENIO能夠為您提供性能，再細小的光譜細節(jié)亦無處可遁。
強大的軟件
OPUS作為紅外分析領(lǐng)域大的軟件解決方案之一，能夠簡化測量程序，為FTIR初學(xué)者和專家提供支持，提供大量的方法創(chuàng)建成套工具，以及樣品評估擴展功能
時刻驗證
INVENIO具有完整的自動PQ（性能驗證）和OQ（操作驗證）程序，可在受監(jiān)管的制藥實驗室中進行儀器驗證
體驗質(zhì)量
從耐用的外殼，到RockSolidTM干涉儀，每個元件均采用材料制成。INVENIO經(jīng)久耐用，能夠為您提供長達多年的長久可用性。
更多分析
INVENIO幾乎可與任何類型的樣品相匹配，僅需幾秒鐘便可切換采樣附件，借助第二個樣品室，您還能并行采用兩個實驗設(shè)置。
不再受限
隨時升級，擴展光譜范圍
實現(xiàn)步進掃描、快速掃描和交叉掃描時間分辨光譜TRS
覆蓋從遠紅外到紫外/可見光的任何細節(jié)
僅需數(shù)秒即可切換附件、檢測器和分束器
TGA、顯微鏡或發(fā)射分析等更多外部模塊
拉曼模塊用于增強分析可能性
符合GMP、GLP及21CFRpart11
工作更輕松
為了始終確保測量參數(shù)，所有核心組件均進行了電子編碼。此外，可選的集成式觸屏電腦能夠帶來的直觀式用戶體驗，以及*的聯(lián)網(wǎng)功能。
INVENIO觸屏式電腦（選件）能夠提供直觀式用戶界面和智能聯(lián)網(wǎng)功能，在實驗室測量，在辦公室解析，將真正成為可能——無需纜線或人工傳輸數(shù)據(jù)。預(yù)設(shè)的工作流程大限度地減輕了操作人員的工作量，同時保持功能不受影響。
從基本的QA/QA，到要求嚴苛的研究級應(yīng)用，不論您正在使用標準的ATR裝置、特殊的多角度反射裝置還是成像顯微系統(tǒng)。您都可以信賴INVENIO帶來的直觀明了的分析和測量結(jié)果。
PermaSureTM 能夠時刻監(jiān)測設(shè)備配置，并進行快速自檢，以確保正常運行，同時，PerformanceGuardTM 可通過持續(xù)監(jiān)測所有機械和電子元件來確保儀器的性能。
TransitTM 通道，帶有MIR DTGS檢測器的獨立第二樣品室，您將能進行兩種實驗設(shè)置，節(jié)約大量時間。
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